基于声压反射系数相位谱的涂层密度超声测量方法（专利号：200810230360.5）

日期: 2015-03-30浏览:

专利号：	200810230360.5
申请日：	2008/12/25
授权公告日：	2010/9/8
专利权人：	大连理工大学
发明人：	林莉;赵扬;李喜孟;雷明凯

摘要：
一种基于声压反射系数相位谱的涂层密度超声测量方法,属于材料超声无损检测与评价技术领域。该方法使用由超声探伤仪、超声窄脉冲水浸聚焦探头、涂层试样、水槽、数字示波器以及计算机组成的窄脉冲超声水浸聚焦回波系统。首先利用该系统采集一个由涂层表面反射信号和涂层与基体界面反射信号所组成的混叠信号,再利用该系统采集一个标准试块的表面回波信号,对采集到的试样信号和标准信号分别进行FFT变换,得到实部和虚部数据,最后计算出涂层密度。利用1～20MHZ的超声对涂层密度进行测量,也可扩展用于其它均质或非均质涂层的密度测量。本方法不受涂层材质及其均匀性程度的限制,所用设备简单、可操作性强、成本低,易于实用化,测量精度高,重复性好。

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