一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法（专利号：201010522099.3）

日期: 2015-03-30浏览:

专利号：	201010522099.3
申请日：	2010/10/21
授权公告日：	2013/4/17
专利权人：	大连理工大学
发明人：	李洲龙;王续跃;王东魏;高航;刘巍

摘要：
本发明一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法属于重载大尺寸直径测量领域，涉及测量大直径工件尺寸的高精度测量装置和方法。该装置由初始测量单元和一系列相互独立的基准测量单元组成。每一个测量单元由左右两个长方体磁性定位元件、一个殷钢测量带组成。采用的测量方法是先将初始测量单元A安装在被测圆周表面被测直径部位处，确认初始测量单元上左定位元件与右定位元件与被测圆周表面接触，并且通过长方形磁铁上的水平仪保证定位块水平，测量带张紧紧贴着被测量元件。本发明具有精度高、成本低、操作简便以及便携性等特点而在这些场合具有很好的推广价值和应用价值。

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