基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗和声衰减的方法（专利号：201210049984.3）

日期: 2015-03-30浏览:

专利号：	201210049984.3
申请日：	2012/2/29
授权公告日：	2013/10/30
专利权人：	大连理工大学
发明人：	林莉;胡志雄;陈军;罗忠兵;李喜孟

摘要：
一种基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗的方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。该方法使用脉冲超声水浸回波系统，采集来自水与薄层上表面以及水与薄层下表面的界面反射回波组成的混叠信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号，对两个信号分别进行FFT，通过进一步处理得到声压反射系数功率谱。然后对功率谱进行低通滤波和带通滤波，求出功率谱表达式中的相关系数，并将这些系数代入方程求得薄层的声阻抗。本方法可以在不知道薄层任何参数的情况下同时求得其声阻抗，克服了现有技术需要已知薄层的部分参量才能得到其他参量的不足。