一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法（专利号：2011104045031.0 ）

日期: 2015-03-30浏览:

专利号：	2011104045031.0
申请日：	2011/12/8
授权公告日：	2014/4/16
专利权人：	大连理工大学
发明人：	赵泰洋；郭成安；李小兵；王宇；杨清山

摘要：
本发明公开了一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法，本发明属于无线定位技术领域，涉及一种以nanoLOC芯片的测量结果为基础，通过数据融合技术来减少多径效应对测距结果影响的方法。其特征是：该方法用于基于nanoLOC芯片构成的定位系统中，在测量基站与移动站的距离过程中，首先读取nanoLOC芯片的测距结果d和RSSI(接收信号强度指示)值r，之后利用d与r计算出一个校正参数，再利用该校正参数对测距结果进行校证，得到最终测距结果。

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