一种用于透射电镜薄膜样品的研磨抛光装置（专利号：2013100150733）

摘要：

    本发明公开了一种用于透射电镜薄膜样品的研磨抛光装置，其特征是圆柱形基体有四个通孔，除中心通孔外，其余三个通孔围绕圆柱形基体底部的圆心均匀分布，并与三个圆柱形支柱滑动配合；旋转螺杆的圆柱状套筒通过螺钉与圆柱形基体上相应通孔固定连接，圆柱状套筒的中心处开有螺纹通孔供螺杆进出；直角棱台上有与圆柱状基体中心的通孔相对应的通孔，螺栓穿过中心通孔将其与圆柱形基体固定连接；直角棱台的棱角处开有半圆形凹槽和三分之二圆形通孔；微分头与直角棱台配合，通过半圆形凹槽固定，并利用螺钉锁紧；本发明具有结构简单，造价低，对楔形样品的倾斜角度可以较为精确的控制，从而增加样品制备的效率，并提高样品研磨的均匀性。