基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法（专利号：2013105080879）

摘要：

    一种基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法，属于超声无损检测技术领域。该方法采用一套包括TOFD超声检测仪、集成TOFD操作软件的计算机、TOFD探头、扫查装置、校准试块及数字示波器构成的超声测试系统。针对TOFD检测中近表面区域进行扫查，对采集到的包含有缺陷信息的混叠时域信号进行频谱分析，读取幅度谱中谐振频率，结合材料纵波声速计算出直通波与缺陷上尖端衍射波声程差，进而确定近表面盲区内缺陷埋深。与其他减小近表面盲区深度的方法相比，该方法对硬件系统无额外要求，不受限于被检工件厚度，具有较好的工程应用价值。