用超声检测多层吸波涂层测厚装置的测厚方法（专利号：201310174143X）

摘要：

    一种用超声检测多层吸波涂层的测厚装置及其测厚方法，属于超声无损检测与评价技术领域。该装置采用包括一种带宽0～35MHz的便携式数字超声探伤仪、延迟块探头或局部水浸的超声延迟线探头、涂层声速标定试样和集成了测厚算法的计算机构成的测厚装置。该装置根据超声回波特点选择△t或fn计算涂层厚度。通过将自相关方法与声压反射系数功率谱方法相结合迭代加窗分析，选择一个准确的fn实现涂层测厚。该测厚装置及其测厚方法克服了现有超声测厚技术对探伤仪和探头频带要求高、数据截取需要人工干预以及只适用于单层涂层等局限性。所用设备体积小、重量轻，适于多种基体、多层涂层外涂层的现场测厚，具有较大的经济效益和社会效益。