基于声压反射系数自相关函数的薄层厚度超声检测方法（专利号：201310036748.2）

摘要：

    一种基于声压反射系数自相关函数的薄层厚度超声检测方法，属于无损检测技术领域。该方法使用超声脉冲回波技术和声压反射系数自相关信号处理方法进行薄层厚度测量。首先使用超声脉冲回波系统采集一个包含薄层上表面和下表面的反射回波信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号。然后分别对采集到的信号进行快速傅里叶变换，求出薄层声压反射系数自相关函数。最后在自相关函数中读取各极大值对应的频率，并结合材料声速计算得到薄层厚度。本方法克服了传统的超声干涉测厚法必须能够读取信号频谱中两个谐振频率才能准确获得薄层厚度的局限性，具有测量精度高、可操作性强、设备成本低、适应范围广等优点。