专利成果

金属基底上制备高深宽比金属微光栅的方法(专利号:2014101342171)

日期: 2016-07-08浏览:

专利号:

2014101342171

申请日:

2014/04/03

授权公告日:

2015/12/30

专利权人:

大连理工大学

发明人:

杜立群;赵明;鲍其雷;谭志成;王翱岸

摘要

    金属基底上制备高深宽比金属微光栅的方法,属于微制造技术领域。采用UV-LIGA技术在高纯镍板基底J上,经两次匀胶、分层曝光以及一次显影等光刻工艺过程得到SU-8胶胶膜,再经微电铸镍N、微电铸后处理来实现金属微光栅的制作;通过线宽补偿的方法解决溶胀引起的线宽变小问题;在去胶工序中,采用了“超声-浸泡-超声-浸泡”循环往复的方法去胶;在退火工序中使用真空退火去除残余应力,提高了基底与金属光栅之间的结合力。本发明的效果和益处是:采用此方法在金属基底J上制备金属微光栅具有深宽比、尺寸精度和机械强度高的特点,制备工艺简单,成本较低。